高溫高濕試驗箱，芯片老化箱概述

適用于電工、電子、儀器儀表及其它產(chǎn)品、零部件及材料在高低溫交變濕熱環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時的適應(yīng)性試驗；

高溫高濕試驗箱，芯片老化箱用途

適用于電工、電子、儀器儀表及其它產(chǎn)品、零部件及材料在高低溫交變濕熱環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時的適應(yīng)性試驗； 是各類電子、電工、電器、塑膠等原材料和器件進(jìn)行耐寒、耐熱、耐濕、耐干性試驗及品管工程的可靠性測試設(shè)備； 特別適用于光纖、LCD、晶體、電感、PCB、電池、電腦、手機(jī)等產(chǎn)品的耐高溫、耐低溫、耐潮濕循環(huán)試驗。。

技術(shù)參數(shù).

一.性能指標(biāo)

1）溫度范圍：RT--150℃

2）濕度范圍：60~98% R?H

3）波動/均勻度 ≤±0.5℃ /±2℃

4）溫度偏差：+2%、-3%R?H

5）精度范圍    溫度±0.1℃、濕度±0.1%R?H

二.箱體結(jié)構(gòu)

1)控制器：進(jìn)口微電腦溫濕度集成控制器

2)溫濕度傳感器：鉑金電阻?PT100Ω

3)加濕系統(tǒng)：外置隔離式，全不銹鋼鍋爐式淺表面蒸發(fā)式加濕器

4) 除濕系統(tǒng)：采用蒸發(fā)器盤管露點溫度層流接觸式加濕器

5) 加熱系統(tǒng)：*獨立系統(tǒng)，鎳鉻合金電加熱式加熱器